一、三箱高低溫沖擊試驗箱技術特點：

1、采用伺服冷媒流量控制技術有效達到節(jié)能40%以上；

2、實驗循環(huán)進行，有效達到3天除霜一次，除霜只需2小時；

3、采用純鋁翅片蒸發(fā)器，有效降低儲能時間和能量節(jié)省；

4、具有兩箱和三箱測試功能，符合測試規(guī)范；

5、觀察視窗，有效達到物測目視效果；

6、實時實驗曲線分析，配備RS232，USB數(shù)據(jù)存儲連接；

7、具有報警提示即解出報警裝置畫面圖文解說；

8、試驗結束待測品自動回常溫避免結霜結露保護機制；

二、三箱高低溫沖擊試驗箱測試條件：

• 三相沖擊模式：

高溫60℃～ 150℃，測試時間30min~99h可任意調(diào)節(jié)

常溫沖擊5min~99h可任意調(diào)節(jié)

低溫 -10℃ ～ -65℃，測試時間30min~99h可任意調(diào)節(jié)

• 兩箱沖擊模式

高溫60℃～ 150℃，測試時間30min~99h可任意調(diào)節(jié)

低溫 -10℃ ～ -65℃，測試時間30min~99h可任意調(diào)節(jié)

三、高低溫沖擊試驗箱滿足試驗方法：

1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則

4. GJB360B-2009溫度沖擊試驗

5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

7.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件

8.GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件